SMA100B-B120/B140
在射频微波测试领域，高纯净信号输出、宽频率覆盖及稳定功率性能是衡量信号源品质的核心标尺。RS SMA100B -B120/B140射频微波信号源作为罗德与施瓦茨推出的高端设备，凭借卓越的信号质量和灵活的性能配置，广泛应用于半导体测试、无线通信及航空航天等苛刻场景。其中RS SMA100B -B120覆盖8kHz至20GHz频率范围，RS SMA100B -B140则拓展至40GHz，二者均具备低相位噪声、高输出功率等优势。本文将结合权威技术资料，从核心性能参数、测试原理及典型应用三方面解......
产品描述
在射频微波测试领域，高纯净信号输出、宽频率覆盖及稳定功率性能是衡量信号源品质的核心标尺。R&S SMA100B -B120/B140射频微波信号源作为罗德与施瓦茨推出的高端设备，凭借卓越的信号质量和灵活的性能配置，广泛应用于半导体测试、无线通信及航空航天等苛刻场景。其中R&S SMA100B -B120覆盖8kHz至20GHz频率范围，R&S SMA100B -B140则拓展至40GHz，二者均具备低相位噪声、高输出功率等优势。本文将结合权威技术资料，从核心性能参数、测试原理及典型应用三方面解析该设备，为行业应用提供专业参考。
从参数可见，R&S SMA100B -B120/B140射频微波信号源在信号纯度上表现突出，1GHz频率下-152dBc/Hz的相位噪声指标树立了行业标杆。这种优势源于设备采用的先进频率合成技术和精密电路设计，即使在B140的40GHz高频段，仍能保持相对稳定的性能表现。高输出功率是另一核心亮点，6GHz以下38dBm的功率输出意味着在射频功率放大器测试等场景中，无需额外配置功率放大模块，直接降低了测试系统的搭建成本和复杂性。此外，两款设备均支持的6GHz独立同步时钟输出功能，使其在ADC测试等场景中可同时提供激励信号和时钟信号，大幅提升测试效率。
R&S SMA100B -B120/B140射频微波信号源
频率合成原理：多技术融合保障宽频高精度
设备采用“直接数字合成（DDS）+锁相环（PLL）”的混合频率合成架构，这是实现宽频率覆盖与高精度的核心技术。在低频段（8kHz-1GHz），通过DDS技术生成基础信号，该技术具备频率分辨率高、切换速度快的优势，最小频率步进可达0.001Hz，满足精细频率调节需求。当频率提升至1GHz以上时，系统自动切换至PLL锁相环模式，通过锁定高稳定性参考晶振的频率信号，经倍频、混频等处理生成高频信号。
对于R&S SMA100B -B140的40GHz高频输出，设备额外集成了微波倍频模块，将中频段信号经多次倍频后提升至目标频率，同时通过内置的相位补偿电路抵消倍频过程中产生的相位噪声叠加。这种分频段合成策略，既保证了低频段的调节精度，又实现了高频段的稳定输出，使两款设备可适配从低频EMC测试到高频雷达组件测试的多样化需求。
功率控制原理：电子衰减器实现高效调控
功率控制环节采用电子步进衰减器替代传统机械衰减器，这一设计不仅提升了功率切换速度（切换时间≤10μs），更延长了设备使用寿命。设备的功率控制流程分为三个阶段：首先由功率放大模块将合成信号放大至额定最大功率，随后根据目标功率值，由微处理器控制电子衰减器进行精准衰减，最后通过功率检测模块实时采集输出功率，形成闭环反馈调节。
以R&S SMA100B -B120在20GHz频段输出32dBm功率为例，系统先将基础信号放大至38dBm，再通过衰减器进行6dB精准衰减，功率检测模块通过定向耦合器采集输出信号，将检测数据反馈至主控单元，确保实际输出功率与设定值的偏差控制在±0.5dB以内。这种闭环控制机制，使设备在全频率范围内的功率稳定性得到有效保障，尤其适用于批量生产中的一致性测试场景。
调制测试原理：灵活适配多制式信号需求
针对通信、雷达等领域的调制信号测试需求，R&S SMA100B -B120/B140集成了丰富的调制功能，支持AM、FM、PM、ASK、FSK等多种调制方式。以常见的FSK（频移键控）调制为例，其原理是通过基带信号控制频率合成模块的输出频率，使载波在两个预设频率点之间切换，切换速度由基带信号的速率决定。设备内置的基带信号发生器可生成最高100MHz的基带信号，配合外部I/Q输入接口，还可实现复杂的矢量调制。
在雷达脉冲调制测试中，设备通过脉冲调制器将连续载波信号转换为脉冲信号，可灵活设置脉冲宽度（10ns-1s）、重复频率（1Hz-1MHz）及脉冲串模式。借助R&S专用脉冲软件，用户可自定义脉冲序列，模拟不同雷达系统的发射信号，为雷达组件的脉冲响应测试提供精准激励。此外，设备的低谐波特性（6GHz以上输出18dBm时谐波<-70dBc），确保了调制信号的纯净度，避免谐波干扰对调制精度测试的影响。
同步时钟原理：独立链路保障信号协同
作为两款设备的特色功能，6GHz独立同步时钟输出采用与主信号源独立的频率合成链路，通过共享同一高稳定性参考晶振（频率稳定度≤1×10⁻¹²/天），实现主信号与时钟信号的相位同步。在ADC测试场景中，主信号源输出射频激励信号，同步时钟信号为ADC提供采样时钟，二者的相位差可通过设备面板进行0-360°调节，满足不同采样相位下的ADC性能测试需求。这种单设备双链路设计，相比传统“信号源+时钟源”的组合方案，不仅降低了系统搭建成本，更提升了信号间的同步精度。
在半导体测试领域，某芯片厂商采用R&S SMA100B -B140对40GHz毫米波芯片进行性能测试。测试中，设备输出30dBm的激励信号，凭借-128dBc/Hz的相位噪声特性，精准测量出芯片的噪声系数和增益平坦度。相比此前使用的同类设备，测试数据的重复性误差从±0.8dB降至±0.3dB，有效提升了芯片筛选的准确性。在批量测试环节，设备的快速频率切换功能使单芯片测试时间从12秒缩短至5秒，大幅提升了生产效率。
航空航天领域中，某科研机构使用R&S SMA100B -B120开展雷达接收模块测试。通过设备生成20GHz、脉冲宽度100ns的调频脉冲信号，模拟雷达回波信号，配合频谱分析仪完成对接收模块解调性能的测试。设备的高功率输出特性确保了激励信号经过长距离传输后仍能保持足够幅度，而低谐波特性则避免了干扰信号对解调精度的影响，为雷达系统的性能优化提供了可靠数据支撑。
R&S SMA100B -B120/B140射频微波信号源
无线通信测试场景下，R&S SMA100B -B120/B140的同步时钟功能得到充分应用。在5G基站ADC测试中，设备同时提供2.6GHz射频激励信号和156.25MHz同步时钟信号，通过调节时钟相位，测试不同采样相位下ADC的信噪比和失真度。单设备替代双设备的方案，使测试系统的占地面积减少40%，且信号同步精度提升至±1ns，显著优化了测试环境。
此外，在EMC（电磁兼容性）测试中，R&S SMA100B -B120的8kHz低频输出能力可模拟工业干扰信号，用于测试电子设备的抗干扰性能；而R&S SMA100B -B140的40GHz高频输出则可适配卫星通信设备的辐射发射测试，展现出两款设备在不同领域的广泛适配性。
R&S SMA100B -B120/B140射频微波信号源凭借宽频率覆盖、高信号纯度及灵活的测试功能，成为高端测试领域的优选设备。其混合频率合成、电子衰减器功率控制等核心原理，确保了设备在各场景下的精准表现，而独立同步时钟等特色功能则进一步拓展了应用边界。无论是半导体研发的高精度测试，还是航空航天的苛刻场景验证，两款设备都能提供稳定可靠的信号支持。未来，随着测试需求的不断升级，相信R&S SMA100B -B120/B140将在更多前沿领域发挥重要作用，为行业技术进步提供有力保障。
核心性能参数解析：基于权威数据的细节呈现
R&S SMA100B -B120/B140射频微波信号源的性能优势体现在频率覆盖、信号纯度及功率输出三大维度，二者既有共性特征，又在频率上限等方面存在差异。以下表格基于罗德与施瓦茨官方规格及权威测试数据，清晰呈现两款设备的关键参数：| 性能参数 | R&S SMA100B -B120 | R&S SMA100B -B140 |
| 频率范围 | 8kHz - 20GHz（过范围模式达22GHz） | 8kHz - 40GHz（过范围模式达44GHz） |
| SSB相位噪声（典型值） | 1GHz/20kHz偏移：-152dBc/Hz；10GHz/20kHz偏移：-132dBc/Hz | 1GHz/20kHz偏移：-152dBc/Hz；20GHz/20kHz偏移：-128dBc/Hz |
| 输出功率（典型值） | 6GHz以下：38dBm；20GHz：32dBm | 6GHz以下：38dBm；40GHz：28dBm |
| 谐波分量 | 6GHz以上/18dBm输出时：<-70dBc | 6GHz以上/18dBm输出时：<-70dBc |
| 宽带噪声（30MHz偏移） | 10GHz时：-162dBc/Hz | 20GHz时：-158dBc/Hz |
| 特殊功能 | 支持6GHz独立同步时钟输出 | 支持6GHz独立同步时钟输出 |
从参数可见，R&S SMA100B -B120/B140射频微波信号源在信号纯度上表现突出，1GHz频率下-152dBc/Hz的相位噪声指标树立了行业标杆。这种优势源于设备采用的先进频率合成技术和精密电路设计，即使在B140的40GHz高频段，仍能保持相对稳定的性能表现。高输出功率是另一核心亮点，6GHz以下38dBm的功率输出意味着在射频功率放大器测试等场景中，无需额外配置功率放大模块，直接降低了测试系统的搭建成本和复杂性。此外，两款设备均支持的6GHz独立同步时钟输出功能，使其在ADC测试等场景中可同时提供激励信号和时钟信号，大幅提升测试效率。
R&S SMA100B -B120/B140射频微波信号源
测试原理深度剖析：从信号生成到精准调控
R&S SMA100B -B120/B140射频微波信号源的测试能力源于其严谨的信号生成、功率控制及调制解调原理，各环节的技术创新确保了测试过程的精准性和稳定性。频率合成原理：多技术融合保障宽频高精度
设备采用“直接数字合成（DDS）+锁相环（PLL）”的混合频率合成架构，这是实现宽频率覆盖与高精度的核心技术。在低频段（8kHz-1GHz），通过DDS技术生成基础信号，该技术具备频率分辨率高、切换速度快的优势，最小频率步进可达0.001Hz，满足精细频率调节需求。当频率提升至1GHz以上时，系统自动切换至PLL锁相环模式，通过锁定高稳定性参考晶振的频率信号，经倍频、混频等处理生成高频信号。
对于R&S SMA100B -B140的40GHz高频输出，设备额外集成了微波倍频模块，将中频段信号经多次倍频后提升至目标频率，同时通过内置的相位补偿电路抵消倍频过程中产生的相位噪声叠加。这种分频段合成策略，既保证了低频段的调节精度，又实现了高频段的稳定输出，使两款设备可适配从低频EMC测试到高频雷达组件测试的多样化需求。
功率控制原理：电子衰减器实现高效调控
功率控制环节采用电子步进衰减器替代传统机械衰减器，这一设计不仅提升了功率切换速度（切换时间≤10μs），更延长了设备使用寿命。设备的功率控制流程分为三个阶段：首先由功率放大模块将合成信号放大至额定最大功率，随后根据目标功率值，由微处理器控制电子衰减器进行精准衰减，最后通过功率检测模块实时采集输出功率，形成闭环反馈调节。
以R&S SMA100B -B120在20GHz频段输出32dBm功率为例，系统先将基础信号放大至38dBm，再通过衰减器进行6dB精准衰减，功率检测模块通过定向耦合器采集输出信号，将检测数据反馈至主控单元，确保实际输出功率与设定值的偏差控制在±0.5dB以内。这种闭环控制机制，使设备在全频率范围内的功率稳定性得到有效保障，尤其适用于批量生产中的一致性测试场景。
调制测试原理：灵活适配多制式信号需求
针对通信、雷达等领域的调制信号测试需求，R&S SMA100B -B120/B140集成了丰富的调制功能，支持AM、FM、PM、ASK、FSK等多种调制方式。以常见的FSK（频移键控）调制为例，其原理是通过基带信号控制频率合成模块的输出频率，使载波在两个预设频率点之间切换，切换速度由基带信号的速率决定。设备内置的基带信号发生器可生成最高100MHz的基带信号，配合外部I/Q输入接口，还可实现复杂的矢量调制。
在雷达脉冲调制测试中，设备通过脉冲调制器将连续载波信号转换为脉冲信号，可灵活设置脉冲宽度（10ns-1s）、重复频率（1Hz-1MHz）及脉冲串模式。借助R&S专用脉冲软件，用户可自定义脉冲序列，模拟不同雷达系统的发射信号，为雷达组件的脉冲响应测试提供精准激励。此外，设备的低谐波特性（6GHz以上输出18dBm时谐波<-70dBc），确保了调制信号的纯净度，避免谐波干扰对调制精度测试的影响。
同步时钟原理：独立链路保障信号协同
作为两款设备的特色功能，6GHz独立同步时钟输出采用与主信号源独立的频率合成链路，通过共享同一高稳定性参考晶振（频率稳定度≤1×10⁻¹²/天），实现主信号与时钟信号的相位同步。在ADC测试场景中，主信号源输出射频激励信号，同步时钟信号为ADC提供采样时钟，二者的相位差可通过设备面板进行0-360°调节，满足不同采样相位下的ADC性能测试需求。这种单设备双链路设计，相比传统“信号源+时钟源”的组合方案，不仅降低了系统搭建成本，更提升了信号间的同步精度。
典型应用场景：权威数据支撑的实战价值
R&S SMA100B -B120/B140射频微波信号源的性能优势在多个行业场景中得到验证，其应用价值通过具体案例和权威数据得到充分体现。在半导体测试领域，某芯片厂商采用R&S SMA100B -B140对40GHz毫米波芯片进行性能测试。测试中，设备输出30dBm的激励信号，凭借-128dBc/Hz的相位噪声特性，精准测量出芯片的噪声系数和增益平坦度。相比此前使用的同类设备，测试数据的重复性误差从±0.8dB降至±0.3dB，有效提升了芯片筛选的准确性。在批量测试环节，设备的快速频率切换功能使单芯片测试时间从12秒缩短至5秒，大幅提升了生产效率。
航空航天领域中，某科研机构使用R&S SMA100B -B120开展雷达接收模块测试。通过设备生成20GHz、脉冲宽度100ns的调频脉冲信号，模拟雷达回波信号，配合频谱分析仪完成对接收模块解调性能的测试。设备的高功率输出特性确保了激励信号经过长距离传输后仍能保持足够幅度，而低谐波特性则避免了干扰信号对解调精度的影响，为雷达系统的性能优化提供了可靠数据支撑。
R&S SMA100B -B120/B140射频微波信号源
此外，在EMC（电磁兼容性）测试中，R&S SMA100B -B120的8kHz低频输出能力可模拟工业干扰信号，用于测试电子设备的抗干扰性能；而R&S SMA100B -B140的40GHz高频输出则可适配卫星通信设备的辐射发射测试，展现出两款设备在不同领域的广泛适配性。
R&S SMA100B -B120/B140射频微波信号源凭借宽频率覆盖、高信号纯度及灵活的测试功能，成为高端测试领域的优选设备。其混合频率合成、电子衰减器功率控制等核心原理，确保了设备在各场景下的精准表现，而独立同步时钟等特色功能则进一步拓展了应用边界。无论是半导体研发的高精度测试，还是航空航天的苛刻场景验证，两款设备都能提供稳定可靠的信号支持。未来，随着测试需求的不断升级，相信R&S SMA100B -B120/B140将在更多前沿领域发挥重要作用，为行业技术进步提供有力保障。
