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红外热像仪FlukeTix660

FlukeTix660红外热像仪是一种将各个位置结合起来形成实时故障记录的仪器。对于工程师和科学家来说,这是一个理想的诊断和分析工具,因为他们了解热力学和热流的基本原理,而没有实际接触目标或干扰理论,并了解在试验或设计阶段的材料收集热量的过程。现在我们都知道它很有用,它被用于科学研究和温度记录的早期和后期开发。情况的真相往往取决于你是否能够正确理解和控制你需要获得的细节和准确性。利用非接触红外热成像技术记录和测量热量,从识别电路板组件的异常到跟踪注塑模具制造过程中相测试对象热力学特性的变化,以及分析多层复合材料或碳能或变化,都是一种常用的方法。尽可能消除光纤连接部件的无损检测,开发红色接触温度装置(如RTD或其外部线路)。由于接触式温度探头的作用,盖子在不同的领域得到了广泛的应用。尽管有这些应用程序的特定情况,有很多不同之处,但一切都能从红色中受益。
FlukeTix660红外热像仪
FlukeTix660红外热像仪可以同时采集高精度、优良的外置热像仪空间数据点,它比物理传感器具有更好的采集、测量分辨率和较高的热灵敏度。福禄克公司提供的红外热像仪具有许多研发应用必不可少的特点,从而实现了所有这些功能。高分辨率和可选的微透镜可以提供近距离成像要求,生成非常详细和信息丰富的图像,以实现每个像素的实时温度显示。单个图像本身可以提供丰富的数据。捕获多个图像或拖缆辐射测量值,并使数据积累成倍增加。用户可以从附带的SmartView软件轻松访问数据,然后通常导出数据并应用自己的分析和算法。对于FlukeTix660红外热像仪还有更多的资料,详情请联系银飞电子。

• 热成像检查电气和机械系统
• 优化部件和组件
• 检查材料
• 控制工艺温度
• 质量保证
• 建筑检查和诊断
• 研究和开发

FlukeTix660红外热像仪是一款热成像系统,针对 7.5 μm 至 14 μm 长波红外光谱范围 (LWIR) 而设计。该系统的镜头可将对象场景以 1024 x 768 和/或 640 x 480 的像素重现到微测辐射热计阵列上。探测器阵列的电气信号通过内部电子器件进一步处理。其中电子器件负责提供热像仪操作所需的各种功能,比如启动微测辐射热计阵列、模数转换、偏置和增益校正、像素校正以及启动不同接口等。可以直接使用集成键盘(操纵杆、对焦摇臂开关、功能按钮)或使用可选接口执行可选操作。可用接口包括RS232、Ethernet (GigE Vision) 或 USB2.0。这些接口需要使用特定软件包。
 
产品使用运输箱交付。收到产品时,检查部件是否完整和完好。如果出现损坏,必须立即报告给供应商银飞电子。基本包装含有以下部件:
• 带有镜头和 5.6" TFT 显示屏的热像仪
• 集成式彩色数码摄像机
• 激光测距仪/激光指示器、GPS,依设备而定
• 可充电锂离子电池 NP-QM91D (Sony)
(TiX660、TiX1000 含 2 节;TiX640、TiX620 含 1节)
• 电池充电器
• SDHC 卡
• SD 卡适配器
• 镜头保护盖
• 肩带
• 用户手册(请登录 www.fluke.com 下载本产品用户手册)
• 安全须知
• 运输箱/运输包装
• 交流适配器
文章来源于FlukeTix660红外热像仪
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