Olympus45MG超声侧厚仪精确测量多种材料厚度

时间:2022-06-28 点击：次分类:技术文章

Olympus45MG是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款独具特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容，是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器，可用于几乎所有测厚应用。Olympus 45MG超声测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、船体外壳及其它结构的剩余厚度，这些应用中很常使用的是双晶探头抵御恶劣环境的能力。用户使用单晶探头则可以精确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。

Olympus 45MG超声侧厚仪可抵御恶劣环境的能力

坚固耐用，设计符合IP67标准。
爆炸性气氛：可在国家防火协会规范（NFPA70）500节I级2分段D组规定的爆炸性气氛环境中安全操作，并且通过了美军标准MIL-STD-810G方法511.4程序I中规定的测试。
防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15g，11msec半弦波。
防振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810G方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时。
宽泛的操作温度范围。
可选的带有支架的橡胶保护套。

奥林巴斯45MG简便操作的设计理念

可只用右手或左手操作的简洁的键区
可直接访问大多数功能的简便易行的操作界面
使用内置MicroSD存储卡和可插拔MicroSD存储卡的存储方式
USB通讯端口
可存储475000个厚度读数或20000个波形的可选字母数字式数据记录器
默认或自定义单晶探头设置（可选）
密码保护方式的仪器锁定
彩色透反QVGA显示，带有室内和室外颜色设置，具有极佳的清晰度

Olympus 45MG兼容双晶和单晶测厚探头精确测量各种材料

使用双晶探头，45MG测厚仪可对那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、船体外壳及其它结构的金属材料进行厚度测量。用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能，当校准过程中出现双回波时，会发出双回波警告，回波到回波/穿透涂层选项可测量带有漆层和涂层的表面，45MG拥有零位补偿功能，通过补偿探头延迟块因热漂移而产生的温度变化，提高了在高温表面上进行测量的精确性。可在高达500℃温度下进行测量。

使用单晶探头，用户使用单晶探头可以精确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其它材料的厚度。我们提供各种频率、直径和连接器类型的单晶探头。如果用户要将45MG仪器与单晶探头配合使用，则必须购买单晶软件或高穿透软件选项。在使用频率范围为2.25 MHz到30 MHz的单晶探头时，单晶软件选项可显示分辨率高达0.001毫米的测量值。高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。