XAN 215
产品描述
它特别适合分析贵金属及其合金的成分和镀层厚度。在氯(17)到铀(92)的范围内，最多可同时测定24种元素。
XAN 215典型的应用领域
XNA 215描述
●出色的精度和长期稳定性是所有FISCHERSCOPE x射线系统的特点。重新校准的必要性大大减少，节省了时间和精力。
●现代硅PIN检测器具有高精度和良好的检测灵敏度。
●FISCHER的基本参数方法允许分析固体和液体样品以及无需校准的涂层系统。
●XAN 215被设计为一个用户友好的台式仪器。
●样品定位快速简便。x射线源和半导体探测器组件位于仪器的下腔内，因此测量方向从样品下方开始，由透明窗口支撑。
●集成视频显微镜变焦和准星简化了样品放置，并允许精确的测量点调整。
●测量的整个操作和评估以及测量数据的清晰呈现是在PC上执行的，使用功能强大且用户友好的WinFTM®软件。
●FISCHERSCOPE x射线XAN 215符合DIN ISO 3497和ASTM B 568。它是一种完全受保护的仪器，根据德国法规“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”获得型式认证。
XAN 215参数
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通用规格 |
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设计用途 |
采用能量色散型X射线荧光光谱法（EDXRF）， 用以分析贵金属及其合金的成分以及测量镀层的厚度 |
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元素范围 |
从元素氯（17）到铀（92），多时可同时测定24种元素。 |
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重复性 |
测量金元素时≤1‰，测量时间60秒 |
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形式设计 |
台式仪器，测量门向上开启 |
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测量方向 |
由下往上 |
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X射线源 |
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X射线管 |
带铍窗口的钨靶射线管 |
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高压 |
三档：30KV，40KV，50KV |
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孔径（准直器） |
φ1mm；可选φ2mm |
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测量点尺寸 |
当测量距离MD=0mm时，测量点直径=孔径直径+200μm |
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X射线探测 |
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X射线探测器 |
采用珀耳帖了法冷却的Si-PIN接收器 |
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能量分辨率 （Mn元素Kα半高宽） |
≤180eV |
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测量距离 |
0...10mm |
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通过受专有保护的DCM测量距离补偿法，可在不同测量距离上不需要重新校准就能进行测量； |
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样品定位 |
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样品放置 |
手动 |
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视频系统 |
高分辨率CCD彩色摄像头，可沿着初级X射线光束方向，手动焦距，对被测位置进行监控 |
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十字线（带有经过校准的刻度和测量点尺寸），可调节亮度的LED照明 |
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图像发达倍数 |
40x~160x |
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工作台 |
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形式设计 |
固定工作台 |
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样品放置可用区域 |
310x320mm |
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样品较大重量 |
13KG |
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样品较高高度 |
90mm |
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电气参数 |
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电源要求 |
AC 220V 50Hz |
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功耗 |
较大120W（不包括计算机） |
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保护等级 |
IP40 |
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尺寸规格 |
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外部尺寸（宽x深x高） |
403x588x365mm |
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重量 |
大约45KG |
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环境要求 |
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使用时温度 |
10℃~40℃ |
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存储或运输时温度 |
0℃~50℃ |
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空气相对湿度 |
≤95%，无结露 |
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计算单元 |
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计算机 |
Windows®-PC |
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软件 |
标准：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能 |
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可选：Fischer WinFTM® |
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执行标准 |
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CE合格标准 |
EN 61010 |
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X射线标准 |
DIN ISO 3497 和ASTM B 568 |
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形式批准 |
作为受完全保护的仪器 |
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符合德国“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法规的规定 |
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深圳银飞电子有售XAN 215，文章来源于Fischer
