ZX38A-CV ZX38-CV半导体C-V特性测试仪
ZX38A-CV ZX38-CV半导体C-V特性测试仪 简要说明：ZX38A-CV半导体 C-V 特性测试仪：使用自动平衡电桥技术及四端对开尔文测试端、测量频率范围涵盖 20Hz~2MHz，很小分辨率 1mHz，基本测量精度可达 0.05%。主要用于用于测试半导体器件 PN 结的势垒电容在不同偏压下的电容量。ZX38A-CV半导体 C-V 特性测试仪除了可以连接电脑上位机软件扫描分析功能外，还提供在仪器大屏液晶显示器上直接显示 C-V 扫描曲线分析功能。这样客户不再需要为每台仪器配置一台电脑。这种方......
产品描述
ZX38A-CV ZX38-CV半导体C-V特性测试仪简要说明：ZX38A-CV半导体 C-V 特性测试仪：使用自动平衡电桥技术及四端对开尔文测试端、测量频率范围涵盖 20Hz~2MHz，很小分辨率 1mHz，基本测量精度可达 0.05%。主要用于用于测试半导体器件 PN 结的势垒电容在不同偏压下的电容量。ZX38A-CV半导体 C-V 特性测试仪除了可以连接电脑上位机软件扫描分析功能外，还提供在仪器大屏液晶显示器上直接显示 C-V 扫描曲线分析功能。这样客户不再需要为每台仪器配置一台电脑。这种方式既保证了测试效率，又降低了测试成本、还方便客户在生产线上使用。还可以把仪器屏幕上显示图形和测试数据直接拷贝到 U 盘。
深圳银飞有售ZX38A-CV ZX38-CV半导体C-V特性测试仪
ZX38A-CV还可以测试 MOS 管的输入电容 Ciss，输入电阻 Rg 等参数，同时提供了内置±10VDC 电压源方便客户测试 3 端管子。
订购信息
●ZX38-CV：20Hz-1MHz 半导体 C-V 特性测试仪
●ZX38A-CV：20Hz-2MHz 半导体 C-V 特性测试仪
半导体C-V特性测试仪性能特点
●自动平衡技术电桥，4 端对开尔文测试端
●提供内部直流偏压-40V～+40V
●简体中文、英文操作语言
●绘图扫描、开路、短路、负载校正等等功能
●进行测试数据、测试条件保存（U 盘或内部）
●绘图扫描图像直接拷屏到 U 盘功能
●加强的测试端保护功能
●USB、GPIB(选件)、RS232、LAN（选件）等上位机连接接口
主要测量页面
配备多种接口
半导体C-V特性测试仪基本测量精度
半导体C-V特性测试仪规格参数
| 测量参数 | C、L、X、B、R、G、D、Q、ESR、Rp、θ、|Z|、|Y| | |
| 测量电平 |
0.005-20Vrms(<=1MHz) 0.005-15Vrms(>1MHz) |
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| 基本准确度 | 0.05%, 具体见公司相关企业标准 | |
| 测量速度 | 快速:100 次/秒、中速 20 次/ 秒、慢速 6 次/秒 | |
| |Z|,R,X | 0.01 mΩ～99.9999MΩ | |
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|Y|， G， B |
0.00001μS～99.9999S | |
| C | 0.00001pF～9.99999F | |
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显示范围 |
D | 0.00001～9.99999 |
| L | 0.00001μH～99999.9H | |
| Q | 0.01～99999.9 | |
| θ(RAD) | -3.14159～3.14159 | |
| θ(DEG) | -179.999 °～179.999? | |
| Δ% | -999.999%～999.999% | |
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内部直流 偏置电压 |
可选配?00mA、-40V～+40V | |
| 量程方式 | 自动、保持 | |
| 触发方式 | 内部、手动、自动、外部、总线 | |
| 校准功能 | 开路/短路、扫频清零、点频清零 | |
| 等效电路 | 串联、并联 | |
| 比较器 | 十档分选，BIN0～BIN9、NG、AUX | |
| PASS、HI、LOW(PASS/FAILLED 显示) | ||
| 接口 | RS232C、UsbHost、USB Device、Handler、GPIB（选件） | |
| 温度湿度 | 0℃～40℃，相对湿度≤75% | |
| 电源要求 | 100～120 Vac 或 198～242 Vac | |
| 46～64 Hz，功率大于 75 VA | ||
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体积 (WxHxD) |
400mmx132mmx410mm | |
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重量（净 重） |
8.5Kg | |
ZX38A-CV/ZX38CV半导体C-V 特性测试仪主要附件
| ZX28Y05开尔文测试夹具 |
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| ZX28Y10镀金专用短路片 |
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| ZX28Y11四端开尔文测试电缆 |
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| ZX26009B SMD开尔文测试夹具(选配) |
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ZX28Y08 SMD测试夹具(选配) |
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