使用4200A-SCS参数分析仪可以加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。高达性能参数分析仪，提供同步电流-电压(I-V)、电容-电压(C-V)和超快脉冲I-V测量。大胆发现从未如此容易。4200A-SCS参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。另外，嵌入式测量专业知识（业界首创）可提供测试指南并让您对结果充满信心。

4200A-CVIV多通道切换模块自动在I-V和C-V测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。与竞争产品不同，四通道4200A-SCS参数分析仪的显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。简单地说，4200A-SCS参数分析仪可以完全自定义且全面升级，您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。