压力|温度|多功能校验仪|电能质量|功率分析仪|数字电桥|压力表|大气数据测试仪-银飞电子

Andor ZL41 Wave sCMOS 相机 量子效率最高达82%

Andor ZL41 Wave sCMOS相机在物理科学领域,如大型天空观测、量子计算、流体动力学等研究中,对相机的灵敏度、帧率、动态范围有着严苛要求。依据《Andor ZL41 Wave Specifications.pdf》,Andor ZL41 Wave 作为专为物理科学设计的sCMOS相机平台,凭借高量子效率、低读出噪声、高帧率及灵活功能,成为该领域的实用工具。它包含4.2兆像素与5.5兆像素两种型号,支持多种快门模式与冷却方案,适配多样实验场景。本文将结合文档介绍其核心特性、型号差异与应用,再解析......

产品描述

Andor ZL41 Wave sCMOS相机在物理科学领域,如大型天空观测、量子计算、流体动力学等研究中,对相机的灵敏度、帧率、动态范围有着严苛要求。依据《Andor ZL41 Wave Specifications.pdf》,Andor ZL41 Wave 作为专为物理科学设计的sCMOS相机平台,凭借高量子效率、低读出噪声、高帧率及灵活功能,成为该领域的实用工具。它包含4.2兆像素与5.5兆像素两种型号,支持多种快门模式与冷却方案,适配多样实验场景。本文将结合文档介绍其核心特性、型号差异与应用,再解析测试原理,展现其技术价值。

Andor ZL41 Wave 是Andor公司推出的物理科学专用sCMOS相机量子效率最高达82%,读出噪声低于1 e⁻,帧率最高100 fps(Camera Link接口),支持32位合并模式与光谱模式,能在低至-20℃环境下工作,还可选液体/水冷方案实现-10℃冷却,适配振动敏感实验与寒冷观测环境。该相机拥有丰富物理科学专属特性:全新32位合并模式通过大量像素合并获取超大动态范围,用户可选择最高32位数据位深,突破常规16位传输限制;光谱模式支持机头非对称像素合并与多通道功能,减少上游数据量,简化处理,最快可实现27000光谱/秒,适配瞬态光谱现象研究;ZL41 Wave 5.5型号具备粒子成像测速(PIV)能力,全局快门模式下图像对帧间间隙低至100 ns,适合流体动力学;近红外波段无条纹干扰,前照式传感器结构避免背照式设备的信号调制问题;GPU Express功能优化数据传输,借助NVIDIA CUDA GPU加速采集流程;软件兼容性广泛,支持Linux、Windows、LabView、MATLAB,新增Python适配,还兼容ASCOM、EPICS、Tango等开源平台,适配天文学与大型科学设施控制需求。

Andor ZL41 Wave 提供4.2兆像素与5.5兆像素两种型号,特性各有侧重。ZL41 Wave 4.2 拥有4.2兆像素传感器,82%峰值量子效率与0.9 e⁻低读出噪声,擅长弱光场景,如天文学、量子成像、光谱学等领域,能提升帧速率;ZL41 Wave 5.5 为5.5兆像素传感器,具备全局快门与大视场,兼顾卷帘快门与真全局快门,全局快门对粒子成像测速、天文目标跟踪等技术至关重要,成本效益高且灵活性强。两款型号均具备高动态范围(33000:1)、出色线性度(优于99.8%)、25 ns精度FPGA时间戳,还采用增强型传感器腔室,在高湿度环境下防冷凝,提供3年腔室保修,且无机械快门,避免快门更换与曝光梯度问题,适合X射线断层扫描、大型天空观测等高频次拍摄场景。
 

Andor ZL41 Wave sCMOS 相机

应用方面

Andor ZL41 Wave 覆盖多领域核心需求。大型天空观测中,可部署多台相机持续监测夜空,ZL41 Wave 4.2 高灵敏度利于小行星、轨道碎片等探测,ZL41 Wave 5.5 全局快门适合移动目标跟踪;X射线/中子断层扫描领域,其高分辨率、低噪声与快读出特性,配合无机械快门设计,提升3D/4D断层扫描效率;量子成像研究中,能集成到光学系统观测超冷量子气体,帧速率超26000 fps;高光谱成像与多通道光谱学场景,支持推扫式高光谱成像与高密度多通道光谱采集,如ZL41 Wave 4.2 可445 fps采集20条光谱轨迹;还可用于分辨率增强技术,如幸运成像、散斑成像与自适应光学波前传感。
 

系统配置

用户可分三步定制:第一步选相机型号,按像素与接口需求选择,如ZL41 Wave 4.2 USB 3.0版(ZYLA-4.2P-USB3-S)、ZL41 Wave 5.5 Camera Link版(ZYLA-5.5-CL10-S),液体冷却型号需在型号中加入“-W”;第二步选配件,包括F接口适配器、循环冷却器、不同长度的Multi I/O时序电缆、Camera Link/USB 3.0延长线等;第三步选软件,可选Solis Imaging(Windows系统,支持数据采集处理与宏控制)或Andor SDK3(多系统兼容,支持多种编程语言与第三方软件驱动)。此外,相机符合RoHS、EU EMC、EU LV等标准,外部电源获UL认证与日本PSE认证,工作温度范围适配不同型号,存储温度-20℃至50℃,相对湿度需低于70%(无冷凝)。
 

Andor ZL41 Wave sCMOS相机测试原理

Andor ZL41 Wave sCMOS相机的测试原理围绕“高灵敏度信号捕获-低噪声处理-精准时序控制”核心,结合sCMOS技术特性与物理科学应用需求,从多维度保障检测精度,具体分为四方面:
一、高灵敏度与宽动态范围测试原理
该相机通过前照式传感器设计与双放大器架构实现高灵敏度与宽动态范围。前照式传感器搭配增透膜,使ZL41 Wave 4.2 量子效率达82%,最大化光子捕获效率,弱光场景(如量子成像)中,光子经传感器转化为电子后,由双放大器架构处理——低增益放大器处理强信号避免饱和,高增益放大器放大弱信号至可检测水平,双放大器协同覆盖33000:1动态范围。测试时,通过标准光源(如稳定单色光)照射传感器,采集不同光强下输出信号,验证信号线性度(优于99.8%)与动态范围,确保弱光信号无丢失、强光信号无溢出,32位合并模式则通过像素合并提升阱深(随合并像素数线性增加),进一步扩展动态范围,测试中需验证合并后数据的量化准确性与信噪比提升效果。
二、低噪声控制测试原理
低噪声性能通过硬件设计与冷却技术实现。传感器采用并行读出架构,10抽头(10-tap)设计降低单通道数据量,使读出噪声低至0.9 e⁻;热电冷却(空冷至0℃,液冷至-10℃)结合增强型传感器腔室防冷凝设计,减少热激发暗电流(液冷时低至0.019 e⁻/像素/秒)。测试时,在暗环境下设置不同冷却温度与曝光时间,采集暗电流数据,计算暗电流平均值与波动范围,验证冷却效果;同时通过采集零光输入时的噪声信号,分析读出噪声的均方根(RMS)值,确保系统噪声低于1 e⁻,还需测试时钟诱导电荷(CIC)等杂散噪声,通过信号滤波算法验证杂散噪声抑制效果,保障弱光信号纯净度。
三、高帧率与精准时序测试原理
高帧率依赖传感器抽头设计与数据接口优化,Camera Link接口通过10抽头并行读出实现100 fps全帧速率,USB 3.0接口达53 fps,子阵列模式下帧率更高(如128×128 ROI达1691 fps)。测试时,采用标准分辨率测试卡,设置不同阵列尺寸(全帧、子阵列),记录相机连续采集的帧数量与时间,计算实际帧率,验证是否达标;时序精度通过FPGA生成的25 ns精度时间戳实现,测试中使用高精度信号发生器触发相机,对比相机时间戳与外部触发信号时间,验证时间戳准确性,还需测试全局快门的帧间间隙(ZL41 Wave 5.5 低至100 ns),通过拍摄高速移动目标(如旋转的分辨率盘),观察图像模糊程度,评估全局快门同步性能。
四、光谱模式与多场景适配测试原理
光谱模式通过机头非对称像素合并与多通道技术实现,垂直合并像素形成光谱轨迹,多通道模式支持256条轨迹同时采集,最快27000光谱/秒。测试时,使用已知波长的单色光源(如汞-氩灯),将光谱信号导入相机,采集不同波长下的光谱数据,验证波长分辨率与峰值定位准确性;多通道模式测试中,通过多根光纤导入不同波长信号,检查各通道光谱数据的独立性与一致性,确保无串扰;还需测试近红外波段无条纹特性,对比前照式传感器与背照式传感器在近红外区域(如800-1000 nm)的信号调制情况,验证Andor ZL41 Wave 前照式设计对条纹干扰的抑制效果,保障近红外光谱数据可靠性。

综合《Andor ZL41 Wave Specifications.pdf》内容,Andor ZL41 Wave sCMOS相机以高灵敏度、低噪声、高帧率及灵活适配性,在物理科学领域展现显著价值。从量子成像到大型天空观测,从高光谱分析到断层扫描,其特性贴合多样实验需求。测试原理围绕信号捕获、噪声控制、时序精度与光谱适配展开,确保性能稳定可靠。无论是弱光环境下的精准探测,还是高频次动态监测,Andor ZL41 Wave 都能提供有力支持,为物理科学研究的突破提供优质成像解决方案,是该领域科研人员的可靠选择。

上一篇:Andor Kymera 193i 光谱仪 多功能适配与精准控制
下一篇:Andor iKon-L 936 CCD 相机 弱光信号捕获,低噪声控制与宽波段适配

专业选型请咨询我们工作人员

全国统一服务热线

0755-23964199
0755-23964499
0755-23964599
0755-86564199

(国内任一地区手机、座机均可拨打)

版权所有:深圳市银飞电子科技有限公司 粤ICP备15021421号

变压器综合测试仪供应商哪家好,电能质量分析仪品牌推荐,多功能校验仪介绍说明,Fluke功率分析仪器价格,数字压力表多少钱

收缩

银飞电子在线客服