压力|温度|多功能校验仪|电能质量|功率分析仪|数字电桥|压力表|大气数据测试仪-银飞电子

同惠TH511半导体C-V特性分析仪_200V四参数同步C-V测试_功率器件寄生电容检测

同惠TH511半导体C-V特性分析仪,测试频率1kHz-2MHz,VGS40V、VDS200V,支持Ciss/Coss/Crss/Rg四参数同屏一键测量,2通道可扩展至6通道,一体化集成LCR+双路偏置源+矩阵开关,适用于SiCMOSFET、IGBT等功率器件产线快速分选与实验室C-V曲线分析。一、产品简介同惠TH511半导体C-V特性分析仪是常州同惠电子股份有限公司针对半导体功率器件发展趋势推出

产品描述

同惠TH511半导体C-V特性分析仪,测试频率1kHz-2MHz,VGS±40V、VDS±200V,支持Ciss/Coss/Crss/Rg四参数同屏一键测量,2通道可扩展至6通道,一体化集成LCR+双路偏置源+矩阵开关,适用于SiCMOSFET、IGBT等功率器件产线快速分选与实验室C-V曲线分析。


TH510 系列2.jpg

一、产品简介

同惠TH511半导体C-V特性分析仪是常州同惠电子股份有限公司针对半导体功率器件发展趋势推出的专业测试设备,属于TH510系列中的200V电压等级机型。

TH511的核心定位是:一台仪器完成功率半导体器件寄生电容的全参数测试。它将LCR数字电桥、VGS栅极偏置源、VDS漏极偏置源、高低压切换矩阵和上位机软件集成在一台4U机箱内,支持Ciss、Coss、Crss、Rg四个寄生参数同屏一键测量,无需反复换线。

适用行业覆盖新能源(光伏逆变器、车载电驱、储能变流器)、功率半导体制造、汽车电子、科研院所等。核心优势在于一体化集成度高、四参数同步测试速度快、2通道标配可扩展至6通道、产线与实验室两用,同时具备接触检查、通断测试、CrssPlus修正、高压击穿保护等多项实用功能,解决了传统LCR表测功率器件时偏置不足、换线繁琐、高频Crss负值等痛点。



二、产品核心功能与技术原理

2.1什么是C-V特性测试

功率半导体器件(如MOSFET、IGBT)内部存在三个极间电容:栅源电容Cgs、栅漏电容Cgd、漏源电容Cds。这三个电容并非固定值,而是随栅极电压VGS和漏极电压VDS的变化呈强非线性变化。C-V特性测试就是在不同偏置电压下测量这些电容值,得到电容-电压关系曲线。

三个核心派生参数的定义:

Ciss(输入电容)=Cgs+Cgd,影响器件驱动损耗和开关延迟时间;

Coss(输出电容)=Cds+Cgd,影响关断特性和整机发热损耗;

Crss(反向传输电容,又称米勒电容)=Cgd,决定开关速度,Crss越大漏极电流上升越慢。

2.2TH511的测试原理

TH511采用自动平衡电桥原理测量电容,同时内置两路独立的直流偏置源:一路VGS(0~±40V)加在栅极,一路VDS(0~±200V)加在漏极。仪器通过内部矩阵开关自动切换端子连接逻辑,分别实现Ciss(漏源短接)、Coss(栅源短接)、Crss(源极特定连接)三种测量模式,并同步计算栅极电阻Rg。

整个过程一次接线即可完成,仪器内部自动切换,用户无需手动换线。10.1英寸触摸屏同时显示四个参数的测量值、等效电路图和分选结果,直观清晰。

2.3三种测试模式

TH511支持三种测试方式,覆盖不同使用场景:

单管点测:适用于产线单颗器件快速分选,一键启动全流程测试;

列表扫描:适用于多芯器件或模组器件,最多支持50个扫描点,每个点可单独设置频率、Vg、Vd和分选上下限;

曲线扫描(选件):适用于实验室研发分析,最多1001点,自动生成C-V特性曲线,支持对数/线性坐标,可叠加同一参数不同Vg的多条曲线。


三、详细技术参数表

参数类别

技术指标

产品型号

TH511

通道数

2通道(可选配扩展至4/6通道)

显示

10.1英寸电容触摸屏,16:9,1280×800分辨率

测量参数

Ciss、Coss、Crss、Rg(四参数任意选择组合)

测试频率范围

1kHz~2MHz

频率准确度

0.01%

测试电平范围

5mVrms~1Vrms

测试电平准确度

±(10%×设定值+2mV)

VGS栅极偏置

0~±40V,准确度1%×设定电压+8mV

VDS漏极偏置

0~±200V,准确度1%×设定电压+100mV

偏置输出阻抗

100Ω,±2%@1kHz

电容测量范围

0.00001pF~9.99999F

Rg测量范围

0.001mΩ~99.9999MΩ

最高测量准确度

0.5%(具体参考说明书)

列表扫描点数

最多50点,每点可单独设置平均数和分选

曲线扫描点数

最多1001点(选件)

比较器分档

10档Bin+PASS/FAIL,每档最多4参数极限

测量速度

快速+:2.5ms/次(>5kHz);快速:11ms;中速:90ms;慢速:220ms

测量平均次数

1~32次可选

校准功能

开路OPEN、短路SHORT、负载LOAD、夹具校准

内部存储

约100M非易失存储器,可存测试设定文件、截屏、记录

通信接口

USBHOST×2、USBDEVICE、LAN(10/100M)、HANDLER、RS232C、RS485、GPIB(RS232/RS485/GPIB三选一同时使用)

可选协议

SCPI、MODBUS

开机预热时间

60分钟

输入电源

100-120VAC/198-242VAC可选,47-63Hz

功耗

≥130VA

外形尺寸(W×H×D)

430mm×177mm×405mm

重量

约16kg


四、产品核心优势

4.1一体化集成,一台顶一套

传统功率器件C-V测试方案需要LCR表+VGS源+VDS源+矩阵开关+上位机软件,多台设备拼接,接线复杂,占用空间大。TH511将以上全部功能集成在一台4U机箱内,基于Linux系统和10.1英寸电容触摸屏操作,接线简单,部署快速,特别适合产线自动化集成和实验室紧凑布局。

4.2四参数同步,一次接线全部测出

市面普通LCR表测Ciss、Coss、Crss需要手动换线,至少换三次线,每次换线还要重新校准,效率低且引入连接误差。TH511一次接线即可同步测出Ciss、Coss、Crss、Rg四个参数,内部矩阵开关自动切换,测量速度快,数据一致性好。10.1英寸大屏同屏显示四个参数数值、等效电路图和分选结果,质检人员一眼完成判定。

4.32通道标配,可扩展至6通道

TH511标配2通道,可按需扩展至4通道或6通道,支持单管、多芯、模组器件并行测试。6通道模式下可同时保存6组通道参数并快速调用切换,配合列表扫描功能,一次触发完成多颗器件或多颗芯片的全部参数测试,大幅提升产线吞吐量。

4.4CrssPlus功能,解决高频负值难题

Crss(米勒电容)通常在pF级,容量极小,在高频测试或自动化长线缆场景下,受开关和线缆寄生参数影响,容易出现负值,导致测量无效。TH511搭载同惠独有的CrssPlus算法模式,即使在自动化测试系统、高频条件下也能测得正确的Crss正值,这是普通LCR表不具备的能力。

4.5接触检查+通断测试,双重防误判

产线高速测试中,测试夹具磨损、引线断裂造成接触不良,会导致误判且难以发现。TH511采用四端测量法,每个脚位两根线,任意一根断裂或接触不良都能实时检测并提示,仪器自动停止测试。同时配备快速通断测试(OP_SH)功能,在C-V测试前先判断器件是否已击穿损坏,避免把损坏件的杂散电容误判为合格,减少不良品流出。

4.6高压击穿保护,降低维修成本

测试功率器件时漏极加高压,若器件瞬间击穿短路,放电电流可高达数百安培,反冲至仪器内部会造成损坏。TH511内置高压击穿保护电路,在DS瞬间短路时保护仪器内部电路,避免因被测件击穿导致仪器损坏,降低维修成本和停机时间。

4.72米延长线内置校准,适配自动化集成

自动化设备通常需要较长的测试连接线,普通仪器延长线缆后精度偏差大。TH511配套专用2米延长线并内置2米校准系数,保证延长线后的Ciss、Coss、Crss、Rg测试精度与0米夹具一致,方便自动化集成商部署。

4.8同系列电压等级覆盖全

TH510系列提供三个电压等级供选择:TH511(±200V)、TH512(±1500V)、TH513(±3000V),用户可根据被测器件额定电压选型,无需为用不到的高压档位多付成本。


五、产品适用场景

应用领域

具体场景

测试需求

功率半导体制造

SiCMOSFET、IGBT、MOS管来料质检、出厂分选

Ciss/Coss/Crss/Rg四参数快速测试,10档分选,PASS/FAIL判定

新能源

光伏逆变器、车载电驱、储能变流器功率器件入厂检验

高压偏置下C-V特性验证,匹配实际工况电压

汽车电子

车规级功率器件可靠性验证

多参数一致性检测,数据可追溯

科研院所/高校

半导体材料、新型功率器件研发分析

C-V曲线扫描,多曲线叠加对比,对数/线性坐标

二极管/晶闸管

整流二极管、快恢复二极管、晶闸管结电容测试

Cs-V功能,二极管结电容C-V特性分析

电容元件/传感器

高压电容、电容式传感器C-V特性分析

宽偏置电压下的电容变化测试


六、操作与使用优势

图形化设置,上手快。TH511采用10.1英寸电容触摸屏,所有测试设置(频率、电平、Vg、Vd、延时、平均次数、分选上下限)均在一个界面完成,参数与等效原理图对应显示,新手也能快速上手。

三种测试模式一键切换。单管点测、列表扫描、曲线扫描三种模式通过菜单切换,无需更改硬件接线。列表扫描支持50点自由配置,每点可开关参数、设置延时和分选;曲线扫描支持图形化设置Vd起点、终点、点数,自动生成曲线。

自动化接口丰富。标配HANDLER接口用于分选信号输出,支持RS232C、RS485、GPIB、LAN、USBDEVICE多种通信接口,可选SCPI和MODBUS协议,方便与PLC、机械手、上位机集成。HANDLER接口脚位定义、输入输出方式、应答模式全部可视化配置,降低自动化对接难度。

固件在线升级,功能持续更新。TH511支持智能固件升级,可通过U盘、局域网或系统设置界面自动搜索升级包并完成升级,无需返厂。仪器接口和指令集开放,客户可自行编程集成或定制功能,无硬件变更的定制可直接通过固件升级实现。

数据存储与导出便捷。内部约100M非易失存储器可保存测试设定文件、截屏图形和测试记录,支持U盘导出数据,方便质量追溯和报告生成。


七、售后保障与产品资质

生产企业资质。TH511由常州同惠电子股份有限公司研发生产。该公司成立于1994年,是北交所上市企业(股票代码:920509),高新技术企业,专精特新"小巨人"企业,通过ISO9001质量管理体系认证、环境管理体系认证、职业健康安全管理体系认证和能源管理体系认证,持有制造计量器具许可证。

产品合规认证。TH510系列产品通过CE认证(欧盟电磁兼容与安全指令)和FCC认证(美国电磁兼容符合性),产品设计符合国际市场准入要求。

出厂检测。每台TH511出厂前经过完整性能检测,包括开路/短路校准验证、标准电容准确度核验、各频率点重复性测试、VGS和VDS偏置输出精度检测、四参数同步功能验证、接口通信测试等,合格后粘贴合格标识并附带出厂检验报告、产品使用说明书和保修卡。

售后服务。同惠电子提供产品保修服务,在全国设有售后服务网点,支持维修进度在线查询。技术支持团队提供电话、邮件和远程协助,可协助客户完成选型确认、测试方案制定、自动化集成调试等工作。标配附件包括TH26063B/TH26063C测试夹具、TH26063D连接电缆、TH26063G测试延长线、TH26071CUSB转RS232通讯线缆,开箱即可使用。


八、常见问题FAQ

Q1:TH511和普通LCR数字电桥有什么区别?

A:普通LCR表主要用于无源元件(电容、电感、电阻)的阻抗测量,通常只有低压偏置甚至无偏置,测功率器件寄生电容时需要手动换线、外接偏置源,高频段Crss容易出负值。TH511是专为半导体功率器件设计的C-V特性分析仪,内置VGS±40V和VDS±200V两路偏置源,支持四参数同步一键测量,具备CrssPlus修正、接触检查、通断测试、高压击穿保护等专用功能,更适合功率器件测试场景。

Q2:TH511可以测IGBT吗?

A:可以。TH511同时支持MOSFET和IGBT的寄生参数测试,对应IGBT的参数为Cies(输入电容)、Coes(输出电容)、Cres(反向传输电容)和Rg(栅极电阻),仪器内部已预置对应测试模式。

Q3:TH511的VDS只有±200V,能测高压SiC器件吗?

A:TH511适用于额定电压200V以内的功率器件,或只需验证低压段C-V特性的场景。如果需要测试1200V、1700V等高压SiCMOSFET或IGBT的全电压范围C-V特性,建议选择同系列的TH512(±1500V)或TH513(±3000V)。

Q4:曲线扫描功能是标配还是选件?

A:C-V曲线扫描功能为选件,适用于实验室研发分析场景。如果仅用于产线快速分选,标配的单管点测和列表扫描功能即可满足需求,无需额外选配曲线扫描。

Q5:TH511支持多通道并行测试吗?

A:TH511标配2通道,可按需扩展至4通道或6通道。多通道模式下支持单管、多芯或模组器件的并行测试,配合列表扫描功能可一次触发完成多颗器件的全部参数测试,提升产线测试效率。

Q6:自动化集成时,测试线延长后精度会受影响吗?

A:TH511配套专用的TH26063G2米测试延长线,仪器内置2米校准系数,使用配套延长线后Ciss、Coss、Crss、Rg的测试精度与0米夹具一致。建议使用原厂配套延长线,避免自行定制线缆带来的精度偏差。

上一篇:同惠 TH2640B 耐冲击精密电容测试仪
下一篇:暂无

专业选型请咨询我们工作人员

全国统一服务热线

0755-23964199
0755-23964499
0755-23964599
0755-86564199

(国内任一地区手机、座机均可拨打)

版权所有:深圳市银飞电子科技有限公司 粤ICP备15021421号

变压器综合测试仪供应商哪家好,电能质量分析仪品牌推荐,多功能校验仪介绍说明,Fluke功率分析仪器价格,数字压力表多少钱

收缩

银飞电子在线客服