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WayneKerr WK6440B精密元件分析仪

WayneKerr 6440B精密元件分析仪 原产地英国,是飞机维修手册中推荐的品牌。也就国外长称的LCR Meter。 6440B精密元件分析仪 可对任何无源元件进行全面,准确的高分辨率测试。 特别是对于电容器制造商而言,这些仪器提供快速自动生产测试和完整设计表征的能力。 用户包括无源元件设计人员,制造测试,设计和测试材料以及评估元件特性的电路设计人员。 可以针对任何组件以及在该频率下的等效串联或并联电路自动计算谐振频率。 6440B精密元件分析仪 主......

产品描述

精密元件分析仪
WayneKerr 6440B精密元件分析仪原产地英国,是飞机维修手册中推荐的品牌。也就国外长称的LCR Meter。6440B精密元件分析仪可对任何无源元件进行全面,准确的高分辨率测试。特别是对于电容器制造商而言,这些仪器提供快速自动生产测试和完整设计表征的能力。用户包括无源元件设计人员,制造测试,设计和测试材料以及评估元件特性的电路设计人员。

可以针对任何组件以及在该频率下的等效串联或并联电路自动计算谐振频率。6440B精密元件分析仪主要用于元件的高性能测试,基本精度为0.02%,价格低廉。 功能齐全的6440B可覆盖到3 MHz。为了在指定的频率范围内高速评估组件性能,使用多频模式。在这种模式下,操作员决定测量哪个参数以及在什么频率下测量。 6440B精密元件分析仪完成剩下的工作,在大型LCD显示屏上创建一个易于阅读的表格。每个测试都可以有一个简单的通过/失败显示。

主要特点
基本准确度0.02%
C,L,R,X,G,B,D,Q,Z,Y,Ø - 并联或串联
表征20Hz至3MHz的元件
    谐振频率搜索
快速电容测量
D(损耗系数)测量的高精度
图形图
大型LCD显示屏,用户友好的环境
接口/远程:
GPIB,BINNING


电容器的快速自动多频生产测试
6440B精密元件分析仪可在生产环境中快速自动测试电容器。 用户可以从任何仪器范围中选择测量值,并对每个组件执行多达八个不同的测试。 可以为每个测试选择容差箱。 完成所有测试后,仪器选择整个箱。 测量结果可以通过GPIB或打印机输出。 测试序列由外部输入,GPIB或前面板触发。 一旦测试序列完成,就选择bin,并在GPIB上提供测量数据。 该过程以非常高的速度进行,允许在大约180ms内完成双频测试。 统计形式的通过/失败数据可供用户使用,可在LCD显示屏上查看,打印到本地打印机或通过GPIB导出。

防止充电电容器
高精度测量仪器可能对带电电容器敏感,如果连接可能导致昂贵的维修和不可接受的停机时间。 Wayne Kerr Electronics已经发现了这个问题并开发了一种解决方案,可以保护测试设备免受充电电容的影响。 在这种情况下,保护装置可以轻松且廉价地更换保险丝,同时测试设备保持不受伤害并继续提供可靠的精确性能。 保护单元将保护测试设备免受高达25焦耳的充电能量。

技术数据
测量功能:
可以测量和显示以下任何参数:
电感(L),阻抗(Z),直流电阻(Rdc)和电容(C)
串联或并联等效电路C + R,C + D,C + Q,L + R,L + Q.
串联等效电路仅X + R,X + D,X + Q.
并联等效电路只有C + G,B + G,B + D,B + Q.
极性Z +相角,Y +相角
频率范围:20 Hz至3 MHz> 1800步
驱动电平(Rdc):100 mV或1 V,100Ω源电阻
内部直流偏置电源:2 V,带快速充电电容偏置
直流偏置电压(外部):可通过后面板连接高达±60 V的外部电源
测量速度:可选择4种速度,测试频率≥100Hz,每秒很多20次测量

测量范围:
R,Z0.01mΩ至>2GΩ
G,Y 1 nS至> 2 kS
L 0.1 nH至> 2 kH
C 1 fF至> 1 F.
D 0.00001至> 1000
Q 0.00001至> 1000
Rdc0.1mΩ至>10MΩ
准确性:
L / C±0.05%
R±0.02%
Q±0.05%(Q + 1 / Q)
D±0.0002(1+ D2)
Rdc±0.1%
精度因组件范围测量速度和频率而异

输入规格:
电源230 V AC±10%或115 V AC±10%(可选)
电源频率50/60 Hz
较大消耗150VA
显示屏:高对比度单色LCD 320 x 240点,带CFL背光,可见光区域115 x 86mm。视角45°
测量连接:
4个前面板BNC插座
屏幕处于地电位时的4线(开尔文)测量

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