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TA DSC250系列差示扫描量热仪 温度范围覆盖-180℃至725℃

TA DSC250系列差示扫描量热仪的技术亮点、功能优势与测试原理解析。在材料热分析领域,差示扫描量热仪是精准捕捉材料热行为、支撑科研与生产决策的核心设备。TA Instruments作为深耕该领域50余年的领军企业,推出的TA DSC250系列差示扫描量热仪,凭借对核心技术的革新与实用功能的优化,成为兼顾测试精度与操作效率的代表性产品。该系列差示扫描量热仪不仅传承了TA Instruments的技术基因,更在性能指标、功能配置及用户体验上实现突破,能满足高分子......

产品描述

TA DSC250系列差示扫描量热仪的技术亮点、功能优势与测试原理解析。在材料热分析领域,差示扫描量热仪是精准捕捉材料热行为、支撑科研与生产决策的核心设备。TA Instruments作为深耕该领域50余年的领军企业,推出的TA DSC250系列差示扫描量热仪,凭借对核心技术的革新与实用功能的优化,成为兼顾测试精度与操作效率的代表性产品。该系列差示扫描量热仪不仅传承了TA Instruments的技术基因,更在性能指标、功能配置及用户体验上实现突破,能满足高分子材料、医药、食品等多领域的精准测试需求,是实验室中兼具专业性与实用性的TA DSC250系列差示扫描量热仪设备。
 

核心技术配置

TA DSC250系列差示扫描量热仪搭载了TA Instruments标志性的Fusion Cell™,这一融合专利技术的核心部件,整合了全球畅销Q系列与第一代Discovery DSC的优势设计,同时融入专利Tzero®技术及全新专有制造工艺。与竞品需更换传感器以优化特定性能不同,TA DSC250系列差示扫描量热仪的Fusion Cell™通过单传感器设计,即可实现基线平坦度、灵敏度、分辨率与重现性的全面平衡,从根本上简化操作流程,避免传感器更换带来的误差风险。该细胞采用固定基座安装的传感器,构建了明确且可重现的热流路径,搭配坚固的一体化银质炉体与长寿命绕组,确保TA DSC250系列差示扫描量热仪在长期使用中保持稳定的温度控制与均匀性,即使在宽温度范围内连续测试,也能减少温度波动对数据的干扰。此外,独特的冷却棒与环形设计让TA DSC250系列差示扫描量热仪在宽温度范围内具备出色的冷却性能,支持更高的冷却速率与更灵敏的冷热切换操作,而温度控制电子元件则进一步保障测试信号的稳定性与重复性,为精准数据提供技术支撑。
美国TA差示扫描量热仪DSC250
 

性能指标

TA DSC250系列差示扫描量热仪展现出行业领先的精准度与稳定性。其基线平坦度在-50℃至300℃范围内≤10μW(无需基线扣除),基线重复性<20μW,这一指标意味着在测试过程中,仪器的背景热流干扰极小,即使是材料微弱的热转变(如低幅度玻璃化转变),TA DSC250系列差示扫描量热仪也能清晰捕捉,避免因基线波动导致的信号误判。温度性能方面,TA DSC250系列差示扫描量热仪的温度范围覆盖-180℃至725℃,可满足绝大多数有机与无机材料的热分析需求,无论是低温下的样品结晶测试,还是高温下的热分解研究,都能稳定适配;温度准确度达±0.05℃,温度精密度达±0.008℃,确保熔点、玻璃化转变温度等特征温度的测定误差处于极低水平,符合医药、电子材料等行业对测试精度的严苛要求。焓变精密度为±0.08%,在分析材料相变焓、反应热等热效应时,能确保多次测试结果的偏差极小,为材料热性能的定量分析(如聚合物结晶度计算)提供可靠依据。
 

功能配置

TA DSC250系列差示扫描量热仪具备丰富且实用的功能,满足多样化测试需求。该系列差示扫描量热仪标配Modulated DSC®(MDSC®)技术,这一由TA Instruments首创的技术通过在传统线性升温基础上叠加正弦温度振荡,可同时且独立地测量热流与热容变化。在分析复杂材料时,MDSC®能将重叠的热转变过程分离为更易解读的组分,例如测试聚合物共混物时,可清晰区分不同组分的玻璃化转变温度,避免传统差示扫描量热仪因信号重叠导致的分析误差;同时,该技术还能提升弱转变的检测灵敏度,增加分辨率而不损失灵敏度,为材料热行为的深度解析提供支持。此外,TA DSC250系列差示扫描量热仪支持Tzero热流测试,通过测量传感器的电阻与电容特性,代入四项热流方程计算实时热流,有效消除基线偏差,无需进行复杂的基线校正或数学处理,大幅减少数据分析工作量;同时,该系列差示扫描量热仪可选配54位自动进样器,采用线性X-Y-Z设计并整合自动开盖功能,支持24小时无人值守运行,搭配激光定位系统实现一键自动校准与样品盘位置验证,显著提升测试效率,尤其适合批量样品的质量控制场景。
 

操作便捷性与配件适配

DSC250系列差示扫描量热仪充分考虑用户体验,降低使用门槛。该系列差示扫描量热仪配备创新的“应用程序式”彩色触摸屏,采用类似平板或智能手机的操作逻辑,将启动/停止实验、查看实时信号与曲线、调整实验方法、校准自动进样器等核心功能整合为“一键触达(One-Touch-Away™)”模式,即使是新手用户也能快速上手,减少TA DSC250系列差示扫描量热仪的学习成本。同时,TA DSC250系列差示扫描量热仪兼容TA Instruments强大的TRIOS控制与分析软件,该软件具备直观的设计视图与运行队列功能,可高效管理多样化的样品测试队列,支持灵活的实验编程,无论是单一样品的常规测试,还是多参数的复杂实验,都能通过软件快速设置,且能实时生成测试曲线与标准化报告,简化数据分析流程。配件适配方面,TA DSC250系列差示扫描量热仪可兼容全系列冷却系统,包括翅片式空气冷却系统(FACS)、制冷冷却系统(RCS)及液氮泵附件(LN2P),满足不同温度需求与成本预算;同时支持Tzero®压片机与多种材质的Tzero®样品盘,Tzero®样品盘通过优化设计实现极高的平坦度与样品接触性,搭配Fusion Cell™传感器的均匀热场,构建从样品到传感器的直接热流路径,确保测试数据的准确性,而Tzero®压片机则支持快速规范的样品封装,进一步提升实验效率。
 

测试原理

TA DSC250系列差示扫描量热仪的测试原理基于差示扫描量热法(DSC)的核心逻辑,即通过测量样品与参比物在程序温度变化过程中的热流差异,解析材料的热性能变化。测试时,样品与参比物分别置于Fusion Cell™的两个独立传感器中,炉体按照预设程序(如线性升温、降温或恒温)提供均匀的温度环境。当样品发生相变(如熔融、结晶)、化学反应(如固化、分解)或物理变化(如玻璃化转变)时,会吸收或释放热量,导致样品与参比物之间出现温度差。此时,TA DSC250系列差示扫描量热仪的传感器会实时检测这一温度差,并通过Tzero®技术校正传感器电阻、电容及样品盘带来的热流失衡,将温度差转化为精准的实时热流信号(单位:mW)。若启用MDSC®技术,仪器会在传统线性温度程序上叠加正弦温度振荡,将总热流分解为可逆热流(对应玻璃化转变、熔融等可逆过程)与不可逆热流(对应固化、分解等不可逆过程),进一步分离复杂热事件。通过记录热流信号随温度或时间的变化曲线(DSC曲线),科研人员可从曲线中提取样品的特征温度(如熔点Tm、玻璃化转变温度Tg)、相变焓(如熔融焓ΔHm)、反应热等关键参数,从而评估材料的热稳定性、结晶度、纯度等性能,为材料研发、工艺优化与质量控制提供科学依据。

 
TA 差示扫描量热仪
 
TA 差示扫描量热仪
 
作为TA Instruments Discovery系列的中坚型号,TA DSC250系列差示扫描量热仪凭借先进的Fusion Cell™技术、精准的性能指标、丰富的功能配置及便捷的操作设计,在材料热分析领域展现出显著优势。无论是高校实验室的基础科研,还是企业的质量控制与工艺优化,该系列差示扫描量热仪都能精准匹配需求,提供稳定可靠的测试服务。依托TA Instruments 50余年的技术积淀与全球服务网络,TA DSC250系列差示扫描量热仪不仅能为用户提供优质设备,还能通过专业技术支持与行业独有的5年细胞与炉体保修,降低长期使用成本,为实验室的持续运行提供有力保障,助力科研与生产工作高效推进。
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